Por. čís. | Názov zariadenia | Účel použitia |
1. | Laboratórna elektrická oblúková piecka | Zariadenie je určené na tavenie kovov s vysokou teplotou tavenia, tavenia vysoko reaktívnych kovov a ich zliatin vo vákuu a v ochrannej atmosfére. Slúži na prípravu nových kompozícií zliatin kovov. |
2. | Automatický prístroj na elektrolytické leštenie a leptanie vzoriel | Zariadenie je určené na elektrolytické leštenie a leptanie povrchu vzoriek s oddelene regulovateľnými okruhmi napätia pre leštiace a leptacie procesy. |
3. | Automatizovaná brúska a leštička s možnosťou programovania | Zariadenie slúžiace na manuálne a automatizované brúsenie a leštenie povrchu vzoriek s možnosťou programovania. |
4. | Vibračný leštiaci prístroj na konečné leštenie kovových a nekovových materiálov | Zariadenie je určené na konečné leštenie kovových a nekovových materiálov pre ich skúmanie v rastrovacom elektrónovom mikroskope, s možnosťou elektromechanického vibračného leštenia vzoriek, s variabilným nastavením vibrácií. |
5. | Presná diamantová píla na rezanie kovových a nekovových materiálov | Presná diamantová píla je určená na rezanie kovových a nekovových materiálov na presné a šetrné rezanie malých vzoriek kovových a nekovových materiálov. |
6. | Automatický elektrohydraulický lis na rýchle zalisovanie vzoriek | Automatický elektro-hydraulický lis je určený na rýchle zalisovanie vzoriek za tepla do všetkých termosetických hmôt, bez potreby stlačeného vzduchu. Lisovacia teplota 50 až 190 °C, lisovací tlak 90 až 250 bar, zohrievací element min. 1300 W. |
7. | Zariadenie pre meranie lokálnych mechanických vlastností (triboindenter) | Systém nanoindentora a 3D mikroindentora - systém pre nanomechanické testy materiálov. Merací systém zariadenia je vhodný pre nanoindentačné experimenty (kvázistatická nanoindentácia, nanovrypové skúšky, nanooterové skúšky skenovaním plochy povrchu vzorky s presne definovanou silou, „in situ“ SPM zobrazovanie, dynamickú mechanickú analýzu, mapovanie modulu pružnosti na zvolenej ploche – tzv. „modulus mapping“) a umožňuje tiež mikroindentáciu a mikrovrypové skúšky minimálne do 2N.
|
8. | Dynamicko-mechanický analyzátor chladený dusíkom | Zariadenie vhodné na viskoelastické meranie materiálov. Teplotný rozsah minimálne od –150 °C až do 600 °C. Chladenie je zabezpečené kvapalným dusíkom do teploty min. –150 °C. Frekvenčný rozsah minimálne v rozsahu od 0,01 Hz do 100 Hz, s minimálnou maximálnou silou 15 N. Rozlíšenie sily 0,00001 N, rozlíšenie deformácie ≤ 1 nm. Environmentálna komora umožňuje vykonávať merania taktiež v závislosti od zmeny vlhkosti prostredia - zmena relatívnej vlhkosti v rozsahu 5% - 95%. |
9. | Dilatometer | Zariadenie na dilatometriu s vysoko rýchlym chladením a ohrevom vzorky vrátane deformačnej jednotky a merania vzorky v ťahu a tlaku. Dilatometer je určený na meranie elektricky vodivých vzoriek v rozsahu teplôt – 150 až 1700 °C s rýchlosťou ohrevu vzorky ≥ 4000 °C/s a rýchlosťou chladenia vzorky ≥ 2500°C/s. Umožňuje merania na vzduchu, vo vákuu alebo v inertnej atmosfére. |
10. | Mikroskop atómových síl-AFM | Atómový silový mikroskop je prístroj určený na zisťovanie lokálnych mechanických, termo-mechanických a elektrických vlastností materiálov. Operačné módy pre analýzu vzoriek na vzduchu a/alebo v kvapaline: Kontaktný mód/mikroskopia bočných síl, AC mód/tapping mód s riadením fázy a funkciou Q-control, mikroskopia elektrických síl, mikroskopia povrchového potenciálu, magnetických síl, piezoreakčných síl, zobrazovanie stratového uhla tan δ, silová spektroskopia a mapovanie, nanolitografia, nanomanipulácia. Zariadenie umožňuje na ploche menšej ako 100 nm x 100 nm lokálny ohrev vzorky sondou na teplotu minimálne 500 °C tak, aby bolo možné skúmať lokálne termo-mechanické vlastnosti vzorky.
|
11. | Vysokoteplotný tribometer | Štúdium tribologických vlastností tenkých vrstiev, povlakov, kovových materiálov a keramiky za normálnych i za zvýšených teplôt (až do 1000 °C). |