AFM mikroskop
Mikroskop atomárnych síl (AFM) umožňuje skúmať elektricky vodivé aj nevodivé vzorky s veľmi vysokým rozlíšením zlomkov nanometrov. Pomocou mikroskopu je možné zisťovať lokálne termo-mechanické, magnetické a elektrické vlastnosti vzoriek na nano-metrickej úrovni. Mikroskop pracuje v kontaktom aj bezkontaktnom režime na zamedzenie poškodenia povrchu citlivých vzoriek. Skúmanie vzorky môže prebiehať počas kontrolovaných teplotných režimoch v plynových alebo kvapalných prostrediach. Rovnako je k dispozícií aj celý rad režimov nano-mechanickej charakterizácie visko-elastických vlastností.