Konfokálny mikroskop LEXT OLS 5500

Konfokálny mikroskop LEXT OLS 5500

Konfokálna laserová skenovacia mikroskopia je technika na získanie optických obrazov s vysokým rozlíšením a hĺbkovou selektivitou, čo umožňuje trojrozmerné rekonštrukcie topologicky zložitých objektov. Konfokálne laserový mikroskop generuje rýchle a presné optické obrazy s vysokým rozlíšením, ako aj charakterizáciou tvaru povrchu. Kombinuje výhody zväčšených pozorovacích zariadení (optického mikroskopu) a meracích zariadení, aby získali obraz s plným zaostrením a spoľahlivú 3D analýzu tvaru.  Konfokálny mikroskop LEXT OLS 5500 je možné využiť najmä pre:

  • analýzu a charakterizáciu 3D povrchov,
  • meranie profilu a  líniovej a plošnej drsnosti v súlade s normami ISO4287, ISO25178,
  • hodnotenie mikročistoty a štruktúry materiálov podľa normy ASTM a DIN.

Mikroskop je tiež  možno použiť aj pre kvantitatívnu melatolgrafickú analýzu  štruktúrnych zložiek, prítomných v skúmanom materiáli.  Taktiež pre hodnotenie hrúbok rôznych vrstiev a povlakov. Pomocou dvoch svetelných zdrojov bieleho svetla mikroskop sníma svetelnú informáciu, pričom zároveň pomocou zdroja laseru skenuje povrchu objektu (zbieranie informácií o výške). Výsledkom je farebný obraz s vysokým rozlíšením a maximálnym zväčšením, rádovo presahujúcim bežné optické mikroskopy.  Informácie o profile (výške)  môžu byť následne použité pre hodnotenie drsnosti povrchu, mikročistoty, pórovitosti, veľkosti zrna a iných metalografických kvantitatívnych parametroch.

Mikroskop využíva laserový zdroj s vlnovou dĺžkou 405 nm, čo umožňuje dosiahnuť laterálne rozlíšenie v osi XY až 1 nm a axiálne rozlíšenie v osi Z až 0,5 nm. Súčasťou mikroskopu je 5  objektívov: objektív 5× (s numerickou apertúrou NA 0,15) poskytujúci široké zorné pole pre základné prehľadové snímky a merania, LEXT objektív 10× (NA 0,30) vhodný na detailnejšie pozorovania s vyšším rozlíšením, LEXT objektív 20× (NA 0,60) umožňujúci presnú analýzu menších povrchových štruktúr, LEXT objektív 50× (NA 0,95), ktorý je optimalizovaný pre vysokorozlišovacie merania nanoštruktúr, a LEXT objektív 100× (NA 0,95), ktorý poskytuje maximálne dostupné zväčšenie pre analýzu najjemnejších detailov. Mikroskop Olympus OLS5100 dosahuje s použitím 100× objektívu a digitálneho zoomu celkové zväčšenie až 17 280×.