Konfokálny mikroskop LEXT OLS 5500
Konfokálny mikroskop LEXT OLS 5500
Konfokálna laserová skenovacia mikroskopia je technika na získanie optických obrazov s vysokým rozlíšením a hĺbkovou selektivitou, čo umožňuje trojrozmerné rekonštrukcie topologicky zložitých objektov. Konfokálne laserový mikroskop generuje rýchle a presné optické obrazy s vysokým rozlíšením, ako aj charakterizáciou tvaru povrchu. Kombinuje výhody zväčšených pozorovacích zariadení (optického mikroskopu) a meracích zariadení, aby získali obraz s plným zaostrením a spoľahlivú 3D analýzu tvaru. Konfokálny mikroskop LEXT OLS 5500 je možné využiť najmä pre:
- analýzu a charakterizáciu 3D povrchov,
- meranie profilu a líniovej a plošnej drsnosti v súlade s normami ISO4287, ISO25178,
- hodnotenie mikročistoty a štruktúry materiálov podľa normy ASTM a DIN.
Mikroskop je tiež možno použiť aj pre kvantitatívnu melatolgrafickú analýzu štruktúrnych zložiek, prítomných v skúmanom materiáli. Taktiež pre hodnotenie hrúbok rôznych vrstiev a povlakov. Pomocou dvoch svetelných zdrojov bieleho svetla mikroskop sníma svetelnú informáciu, pričom zároveň pomocou zdroja laseru skenuje povrchu objektu (zbieranie informácií o výške). Výsledkom je farebný obraz s vysokým rozlíšením a maximálnym zväčšením, rádovo presahujúcim bežné optické mikroskopy. Informácie o profile (výške) môžu byť následne použité pre hodnotenie drsnosti povrchu, mikročistoty, pórovitosti, veľkosti zrna a iných metalografických kvantitatívnych parametroch.
Mikroskop využíva laserový zdroj s vlnovou dĺžkou 405 nm, čo umožňuje dosiahnuť laterálne rozlíšenie v osi XY až 1 nm a axiálne rozlíšenie v osi Z až 0,5 nm. Súčasťou mikroskopu je 5 objektívov: objektív 5× (s numerickou apertúrou NA 0,15) poskytujúci široké zorné pole pre základné prehľadové snímky a merania, LEXT objektív 10× (NA 0,30) vhodný na detailnejšie pozorovania s vyšším rozlíšením, LEXT objektív 20× (NA 0,60) umožňujúci presnú analýzu menších povrchových štruktúr, LEXT objektív 50× (NA 0,95), ktorý je optimalizovaný pre vysokorozlišovacie merania nanoštruktúr, a LEXT objektív 100× (NA 0,95), ktorý poskytuje maximálne dostupné zväčšenie pre analýzu najjemnejších detailov. Mikroskop Olympus OLS5100 dosahuje s použitím 100× objektívu a digitálneho zoomu celkové zväčšenie až 17 280×.













